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cpu的nm級(jí)越來越小,為什么不通過增大面積來提高性能?

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關(guān)鍵詞: cpu,性能,nm級(jí)

    通過增大芯片面積,一個(gè)芯片中可以放下更多的晶體管,更多的晶體管可以實(shí)現(xiàn)功能更復(fù)雜,性能更高的芯片呢。這是一個(gè)比較有意思的問題。乍一看貌似很有道理的樣子,那么為什么半導(dǎo)體行業(yè)卻沒有這么發(fā)展呢?

    首先我們看一下,一顆芯片是怎樣制造出來的呢?在半導(dǎo)體制造中,先將單晶硅棒經(jīng)過拋光、切片之后,成為了晶元(wafer)。而每一片wafer經(jīng)過摻雜、光刻、等步奏后形成一個(gè)個(gè)芯片。

    cpu的nm級(jí)越來越小,為什么不通過增大面積來提高性能?

    成品的wafer一般長成下圖,wafer內(nèi)一小塊一小塊的正方形我們稱之為die,即未封裝的芯片。

    那么如果晶元的尺寸不變而增大單個(gè)芯片的大小會(huì)有什么后果呢?1)一片wafer中芯片個(gè)數(shù)變少 這一點(diǎn)很好理解,比如下圖,圓形是wafer的范圍,正方形為一個(gè)die。隨著芯片面積的增大,相同大小一片wafer中包好的芯片個(gè)數(shù)從16變成4再到1。這樣就會(huì)造成制造成本很高。 2)良率變差 良率可以簡單理解為,一片wafer中可以正常工作的芯片。在芯片制造中由于灰塵或者切割或工藝等問題,會(huì)使同一片wafer中若干區(qū)域損壞,造成芯片報(bào)廢。我們還是一下圖為例。黑色點(diǎn)為損壞點(diǎn)。單個(gè)芯片面積越大良率越低。

    那如我們同時(shí)將晶元的面積變大,這樣是不是就可以解決以上兩個(gè)問題了? 下圖為晶元面積的發(fā)展史,很可惜晶元面積的增長速度較慢。如果不進(jìn)行晶體管尺寸縮小,僅僅依靠晶元變大,那么半導(dǎo)體發(fā)展將遠(yuǎn)遠(yuǎn)的落后于摩爾定律。

    選用更先進(jìn)的工藝除了成本和良率的好處之外還有哪些方面的優(yōu)勢呢?一個(gè)MOS管的基本結(jié)構(gòu)如下:

    每一代新工藝節(jié)點(diǎn),晶體管的溝道長度L變小。溝道長度變小后,晶體管有更快的反應(yīng)速度,更低的控制電壓。

    1)更快的頻率 隨著工藝節(jié)點(diǎn)的不斷縮小,芯片的頻率越來越高。

    2)更低的電壓 而芯片的功耗是與電壓成平方關(guān)系,電壓的降低,可以極大的減少功耗。

    由上可知,芯片的性能(頻率、面積、功耗)與芯片中集體管個(gè)數(shù)并沒有必然聯(lián)系,而僅僅通過增大面積無法達(dá)到提高性能的目的。 下圖是近40年來芯片發(fā)展圖,由圖可知通過不斷縮減晶體管尺寸,確保了近40年來半導(dǎo)體業(yè)高速的發(fā)展。

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    但是進(jìn)入28nm以后再按照以往的經(jīng)驗(yàn)來縮減晶體管尺寸,將會(huì)失效。短溝道效應(yīng)造成晶體管無法關(guān)斷。目前業(yè)內(nèi)通過Fin-FET, SOI等技術(shù)來解決這個(gè)問題。

    (審核編輯: 林靜)

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